Optische Messgeräte · Bildverarbeitung · Softwareentwicklung

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Produktvideos

Optische Parameter

Kontaktwinkelmessgeräte

Ziehwerkzeuge (Getränkedose)

Bildverstärkerröhren (IIT)

Ziehsteine und Draht

Halbleiter / Labor

Optische Parameter

MTF Master WW for large object angles

MTF Master for professional test of imaging quality of optics in industry and research

Optics Test Station OTS 200 / OTS 500 for measurement of EFL, BFL, FFL, Radius, MTF, Centering error

MTF Variant: Vollautomatisches Messgerät für die Modulationsübertragungsfunktion (MTF), Brennweite, Verzeichnung, Farbfehler, Bildfeldwölbung und weiterer Aberrationen

Kontaktwinkelmessgeräte

SURFTENS Automatic 1D with motorized Pump and automatic drop placement on the specimen surface

SURFTENS WH 300: Fully automatic contact angle meter for 300mm, 200mm and 150mm semiconductor technologye with 3-axis wafer roboter and loadports for FOUP and wafer carrier

SURFTENS Automatic 2D: Vollautomatisches Kontaktwinkelmessgerät mit x/y-Kreuztisch, motorischer Pumpe und automatischem Setzen des Tropfens

Ziehwerkzeuge (Getränkedose)

PUNCHMASTER - High accurate optical measuring system for outside diameter and outside contour (form) of cylindical objects like punches for the deep drawing process of beverage cans

URP 100: High accurate optical measuring system for the inside diameter of ironing rings and outside diameter and outside form (contour) of punches, special designed for use in beverage can manufacture

RINGMASTER: Hochgenaues Messgerät für Ziehring, speziell entwickelt zur Vermessung von Ziehringen in der Getränkedosenfertigung

Bildverstärkerröhren (IIT)

MTF Master IIT: Vollautomatisches Messgerät für die Modulationsübertragungsfunktion (MTF) von Bildverstärkern (IIT, Bildverstärkerröhren, Image Intensifier Tubes)

 

Ziehsteine und Draht

Ziehstein- und Drahtdurchmesser Mikoskop DM1

Halbleiter / Labor

Mikro Ritzgerät MR 200 zum hochgenauen Ritzen für das definierte Trennen strukturierter Wafer aus Silizium und anderen Materialien

SURFTENS WH 300 – Kontaktwinkelmessgerät mit Wafer Roboter und Loadport

FLATSCAN - High accurate surface profilometer for reflecting surfaces like x-ray mirrors, silicon and glass wafers, specimen size up to 450mm