Optische Messgeräte · Bildverarbeitung · Softwareentwicklung

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Extrem preisgünstiges Kontaktwinkelmessgerät mit allen Funktionen für eine DIN-gerechte Messung

 

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Beschreibung

Softwarebeschreibung

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Beschreibung

 

SURFTENS basic

SURFTENS basic ist ein Messgerät für Kontaktwinkel, freie Oberflächenenergie (SFE) und Oberflächenspannung. Es erfüllt die Anforderungen der DIN 55660-2.

SURFTENS basic kann wahlweise mit einem manuellen oder mit einem motorischen Dosiersystem ausgestattet werden.

Die Kontaktwinkelmessung erfolgt automatisch mittels Bildverarbeitung.

 

SURFTENS Basic mit einem manuellen Dosiersystem

Technische Parameter

Mechanischer Grundaufbau

- Grundplatte: 380X260X30mm

- Halter für Dosiersystem

- Objektivhallter mit 2° Beobachtungswinkel

 

Messoptik mit C-Mount-Anschluss

- Zoomoptik, Zoomfaktor 6,5x

-- Vergrößerung 0,35x…2,25x

-- Objektfeld (12 x 8)mm ….(1,8 x 1,2)mm

-- Arbeitsabstand ca. 100mm

S/W USB 2.0 Kamera mit USB 2.0 Kabel

-- 1,3 Megapixel Auflösung, (1280 x 1024) Pixel

-- bis zu 25 fps in voller Auflösung

-- bis zu 100 fps mit kleinerem AOI

 

LED Lichtquelle, weiß

-mit Spannungsversorgung und Steuergerät

 

Prüflingstisch mit Auflagefläche (100 x 200) mm

- 40mm Höhenverstellung zur Anpassung an Probendicke

- (30 x 70)mm x/y-Verstellweg

 

Manuelle Dosiervorrichtung

- kleinstes Tropfenvolumen: 0,2µl

- Dosierauflösung / -Genauigkeit: 0,1µl (1 ml Spritze, 0,5mm Nadel, Wasser)

- Glasspritze mit Luerlock

 

Motorisches Dosiersystem

-kleinstes Tropfenvolumen 0,2µl

-Dosier-Wiederholgenauigkeit: 0,1µl

-eigene Konstruktion, spezuiell für Kontaktwinkelmessgeräte

 

 

Messgenauigkeit für Kontaktwinkel

(in Verbindung mit der SURFTENS-Messsoftware)

-Auflösung: 0,01°

-Wiederholbarkeit: +/-0,1° am live-Videobild

(Der Nachweis der Genauigkeit nur mittels Messung am Kontaktwinkelstandard! )

-Genauigkeit: 0,1°

 

 

Softwarebeschreibung

SURFTENS-Software zur Kontaktwinkelmessung >

 

Pendant Drop Software >

 

 

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SURFTENS basic

 

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SURFTENS - Bild­verarbeitungs­system zur Kontakt­winkel­messung >