Produkte > Messgeräte für Kontaktwinkel und Oberflächenspannung + Mikroritzgeräte, Wafer-Kontaktwinkel-Messgeräte, Waferstress Messgeräte > SURFTENS HL automatic
Vollautomatisches Kontaktwinkel-Messgerät für Silizium Wafer bis 12 Zoll
Frage zum Produkt >
SURFTENS HL automatic
Kurzbeschreibung
Download PDF
Video
Kurzbeschreibung
Das vollautomatische Kontaktwinkelmessgerät speziell für den Einsatz in der Halbleitertechnologie
Das Kontaktwinkelmesssystem SURFTENS HL Automatik ist für den Einsatz in der Halbleiterindustrie und -forschung konzipiert, insbesondere zur Prozesssteuerung der Waferbeschichtung und im photolithografischen Prozess.
Es zeichnet sich durch folgende Merkmale aus:
- Vollautomatische Kontaktwinkelmessung und -Mappings
- platzsparende Konstruktion
- motorisierter Wafertisch x / phi zur automatischen Probenpositionierung
- motorisierte automatische Dosiereinheit
- automatische Tropfen-Platzierung
- Software-gesteuerteste vollautomatische Messsequenz
- komfortable Dokumentation der Messergebnisse in Protokollen und in den Videobildern
Download PDF
Video